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一、產品簡介
光學薄膜的物理厚度是薄膜最基本的參數之一，它會影響整個器件的最終性能，因此快速而精確地測量薄膜厚度具有重要的意義。隨著計算機、CCD 技術及微刻蝕技術的發展，微型光譜儀成為了實驗室光譜分析的重要工具。我司數字光譜儀選用 Richardson 閃耀光柵，靈敏度提升 20%，雜散光降低 50%。同時，采用雙閃耀技術，搭載紫外敏化 CCD，第一次將有效波段拓展至 200~1100nm。而這一切都被放在了全新設計的 72.5mm焦距 / 對稱/ 非交叉 C-T 光學平臺之中。可達到最低0.1nm 的光譜分辨率；具有波長探測范圍較寬，高穩定性，可編程控制，設計緊湊，便于攜帶和測量等優勢，在光電檢測設備、環境檢測系統、色彩偵測管理、醫學檢測和光譜分析方面都有廣泛的應用。基于白光干涉的原理，利用我司微型數字光譜儀通過數學函數被可以比較精確的計算出薄膜厚度。
二、知識點
白光干涉、微型光譜儀、Y 型光纖、透射光譜、反射光譜、光譜分辨率
三 、涉及課程
光學、光電子技術、光電檢測、光譜分析、光譜應用技術
四、實驗內容
1、了解白光干涉原理
2、動手搭建薄膜測厚系統
3、測量不同樣品膜厚
五、實驗配置
光譜儀、標準光源、Y 型光纖、待測樣品、膜厚采集及分析軟件、實驗講義
備注：本實驗系統可選配電腦，客戶自行購買，亦可由我司代購，價格另計。
公司地址：合肥市包河區馬鞍山路國貿公寓3棟604室
聯系人：錢先生
手機號碼：18919616853
電話：0551-64681711
傳真：0551-64681713
E-mail:xrkq88@sina.com
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