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一、產品簡介
測量光致非線性折射率是研究介質三階非線性光學性質的重要手段，而測量非線性折射率的方法已有很多：非線性干涉技術、簡并四波混頻、自衍射、橢偏術及光束畸變測量等。20 世紀 90 年代初發展起了一種 Z 掃描法，這種測量方法不僅可以用單光束測量，而且可以用同一裝置測出非線性折射率和非線性吸收系數，即三階非線性極化率的實部和虛部，因而受到人們的青睞。
二、知識點
非線性吸收、三階非線性效應、光克爾效應、光束的自聚焦
三、涉及課程
非線性光學、光電檢測、工程光學、應用光學、物理光學
四、 實驗內容
1、 Z 掃描法測量非線性折射率系數
2、Z 掃描法測量非線性吸收系數
五、實驗配置
半導體激光器、雙凸透鏡、可調光闌、非線性晶體、一維電控平移臺、電控平移臺控制器、半透半反鏡、探測器、面包板、測量軟件、實驗講義等。
備注：本實驗需配置電腦，學校可自行配置，亦可由我司代購，價格另計
公司地址：合肥市包河區馬鞍山路國貿公寓3棟604室
聯系人：錢先生
手機號碼：18919616853
電話：0551-64681711
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